Laureat

TONNEAU Didier

Institution d’origine: Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille

Institution d’accueil: Argonne National Laboratory

Discipline: Physics

Prof D. TONNEAU est ingénieur de l’ENSI Electriciens de Grenoble. En 1988 il obtient son doctorat de l’Université J. Fourier (Grenoble). Ses travaux ont abouti à la réalisation d’un équipement de réparation de circuits VLSI par microchirurgie laser. Il rejoint ensuite la Société Bertin en tant que Chef de Projets R&D pour la microélectronique et la défense. En 1991, il devient Chargé de Recherche CNRS du LPSB (Meudon). En 1994 il rejoint le Centre Interdisciplinaire de Nanosciences de Marseille. Il s’intéresse aujourd’hui au développement de nouveaux nano-capteurs à rayons X. Prof TONNEAU est également responsable d’un master en Réseaux et Télécommunications reconnu au niveau national (classement SMBG).

Titre du projet :

Anglais: X-ray free Sanding WAves Probing (X-SWAP)

Français : Imager la Figure d’Interférences à la surface d’un échantillon sous illumination X (IFIX)

Résumé du projet  :

Le projet concerne l’instrumentation dans le domaine de la Microscopie en Champ Proche (Nanosciences). L’irradiation par un faisceau X d’un monocristal en incidence de Bragg conduit à la diffraction de ce faisceau. Cela induit à la surface de l’échantillon un champ d’interférences entre les faisceaux incident et diffracté. Ce champ est très dépendant des défauts du cristal et de la présence ou non de molécules étrangères adsorbées. L’idée de ce projet est de créer un outil permettant de visualiser les ventres et les nœuds de cette figure d’interférence à l’échelle sub-nanométrique. Pour cela, nous couplerons une nano-sonde à rayons X à une pointe de microscope STM, utilisée comme simple chariot pour le positionnement de la sonde.

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